高溫介電溫譜測量系統(tǒng)通過電極夾具測量平臺(tái)，可以測量單樣品和四樣品塊體材料；通過可密封的金屬屏蔽加熱系統(tǒng)，可以實(shí)現(xiàn)更多的測量環(huán)境（如：惰性氣氛、氧化氣氛、還原氣氛、真空氣氛），以滿足科研多樣化的需求。

通過介電溫譜測量系統(tǒng)，可以直接測量樣品的介電常數(shù)和介電損耗隨溫度、頻率、時(shí)間、偏壓等變化的曲線，可以測量阻抗和相位角隨溫度、頻率、偏壓、時(shí)間等變化的曲線，同時(shí)還可以測量壓電材料的機(jī)電耦合系數(shù)等。 廣泛應(yīng)用于高校科研院所和企業(yè)單位在電介質(zhì)陶瓷方面的研究。

了解原理和方法，讓測試更得心應(yīng)手

平行板法在ASTM D150標(biāo)準(zhǔn)中又稱為三端子法，其原理是通過在兩個(gè)電極之間插入一個(gè)材料或液體薄片組成一個(gè)電容器，然后測量其電容，根據(jù)測量結(jié)果計(jì)算介電常數(shù)。在實(shí)際測量裝置中，兩個(gè)電極配備在夾持介電測量的測試夾具上。介電溫譜測量系統(tǒng)將測量電容（C）和損耗（D）的矢量分量，然后由軟件程序計(jì)算出介電常數(shù)和損耗角正切。

評(píng)估材料介電性能通常采用平行板電容器原理，上下電極采用兩個(gè)平行板是理想情況，但實(shí)際上在制作樣品和測量過程中樣品與電極兩個(gè)平面不可能完全接觸，通常只是一個(gè)或多個(gè)點(diǎn)接觸，如果某個(gè)接觸點(diǎn)導(dǎo)電性能不好就容易導(dǎo)致測量不穩(wěn)定。為了避免以上現(xiàn)象，電溫譜儀上電極采用半球狀，下電極采用平面，該電極系統(tǒng)可以精確定位測量被測樣品某一點(diǎn)，從而使系統(tǒng)的重復(fù)性和穩(wěn)定性更好。

強(qiáng)大精準(zhǔn)的介電測量軟件

可以直接測量樣品的介電常數(shù)和介電損壞隨溫度、時(shí)間、頻率變化的曲線，可以測量阻抗譜隨溫度、時(shí)間、頻率變化的曲線，同時(shí)得出Cole-Cole圖和壓電材料的機(jī)電耦合系數(shù)等。
1、介電常數(shù)和介電損耗

通過阻抗測量C和D值，軟件可以自動(dòng)計(jì)算出介電常數(shù)和介電損耗隨溫度、時(shí)間、偏壓、頻率變化的曲線，還可以直接得出介電常數(shù)實(shí)部和虛部的比值。

2、阻抗譜及Cole-Cole圖

通過阻抗測量Z和φ 值，軟件可以自動(dòng)計(jì)算出復(fù)阻抗隨溫度、時(shí)間、偏壓、頻率變化的曲線，還可以直接得出復(fù)阻抗Cole-Cole圖。

3、機(jī)電耦合系數(shù)Kp

通過阻抗測量Z和C值，以及不同溫度下的諧振頻率和反諧振頻率，再通過軟件自動(dòng)計(jì)算出機(jī)電耦合系數(shù)隨溫度、時(shí)間、頻率變化的曲線，軟件可以直接得出機(jī)械品質(zhì)因數(shù)Qm。

關(guān)于介電常數(shù)及阻抗等參數(shù)選擇的儀器設(shè)備：

1、WK6500B系列

七種機(jī)型20Hz~5MHz,10MHz,15MHz,20MHz,30MHz,50MHz和120MHz，符合客戶不同采購預(yù)算

• 簡易的TFT觸屏操作，10分鐘內(nèi)輕易上手
• 電介質(zhì)、壓電片及石英晶體測試解決方案
• 30 ms超高速測試速度
• 等效Rdc 可高度精準(zhǔn)四線式測試，量測到0.01mΩ
• 0.05%基本精確度
• 可內(nèi)建0-100mA +/- 40V，外加可至60A DC Bias 
• 可將測試波形儲(chǔ)存成CSV格式，放大、縮小及MARKER功能
• 20Hz~120MHz，七種機(jī)型，可隨時(shí)升級(jí) ，最高升級(jí)到120MHz
• 直覺的用戶操作接口，USB、LAN、GPIB及HANDLER 
• 可使用鼠標(biāo)及鍵盤操控，也可外接打印機(jī)及使用USB接口儲(chǔ)存數(shù)據(jù)
• 具等效電路仿真功能，內(nèi)建同頻率LCR Meter一臺(tái)

測試參數(shù)：容(C), 電感(L), 電阻(R), 電導(dǎo)(G), 電納(B), 電抗(X), 損耗因數(shù)(D), 品質(zhì)因數(shù)(Q), 阻抗(Z), 導(dǎo)納(Y), 相位角(θ)、介電常數(shù)（ε′ ?相對(duì)介電常數(shù)實(shí)部、ε′′r相對(duì)介電常數(shù)虛部、Dε相對(duì)介電損耗）、磁導(dǎo)率（μ ′ ?相對(duì)磁導(dǎo)率實(shí)部、μ′′r 相對(duì)磁導(dǎo)率虛部、Dμ相對(duì)磁導(dǎo)率損耗）

2、WK6500P系列
本機(jī)種一共有七種機(jī)型，分別是20Hz~5MHz, 20Hz~10MHz, 20Hz~15MHz, 20Hz~20MHz, 20Hz~30MHz, 20Hz~50MHz, 20Hz~120MHz, +/-0.05%準(zhǔn)確度。
在生產(chǎn)線的高頻量測中，此機(jī)種為目前全球測試最準(zhǔn)確，測試頻率最高的機(jī)種。

• 0.05%基本精確度，頻率分辨率≤1mHz
• 簡易的TFT觸屏操作，10分鐘內(nèi)輕易上手 
• 電介質(zhì)、壓電片及石英晶體測試解決方案
  ＜30 mS 自動(dòng)化測量可結(jié)合測包機(jī)測試
• 高頻四線式技術(shù)，可測量極低Rs、等效Rdc和高Q值
  內(nèi)置交流信號(hào)：10mV ~ 1Vrms，200μA~20mArms。直流內(nèi)置偏置信號(hào)：0~ 100mA/0~ +40V或-40V~ +40V（選配）。可外加WK6565高頻直流偏置電流源到40Amp
• 四種模式統(tǒng)一操作界面，Hander連接自動(dòng)化分選設(shè)備，LAN、GPIB電腦聯(lián)機(jī)軟件通信接口
• 可使用鼠標(biāo)及鍵盤操作，也可外接列表打印機(jī)及使用U盤保存數(shù)據(jù)，測試圖像
• 英國設(shè)計(jì)，接受軟硬件升級(jí)及定制化需求

測試參數(shù):電容(C), 電感(L), 電阻(R), 電導(dǎo)(G), 電納(B), 電抗(X), 損耗因數(shù)(D), 品質(zhì)因數(shù)(Q), 阻抗(Z), 導(dǎo)納(Y), 相位角(θ)、介電常數(shù)（ε′ ?相對(duì)介電常數(shù)實(shí)部、ε′′r相對(duì)介電常數(shù)虛部、Dε相對(duì)介電損耗）、磁導(dǎo)率（μ ′ ?相對(duì)磁導(dǎo)率實(shí)部、μ′′r 相對(duì)磁導(dǎo)率虛部、Dμ相對(duì)磁導(dǎo)率損耗）